XRF Coating Analysatorer
XRF overflade analysatorer
XRF-analysatorer til måling af coatingtykkelse og -sammensætning
Hitachis udvalg af benchtop XRF-analysatorer til måling af coatingtykkelse og -sammensætning er udviklet til at imødekomme udfordringerne hos moderne galvaniseringsværksteder og producenter af elektroniske komponenter. Hvert instrument er udstyret med avanceret teknologi, der leverer nøjagtige og præcise resultater – samtidig med at de er robuste nok til at modstå konstant brug i både produktion og laboratoriemiljøer.
Uanset om din udfordring er at måle en stor variation af former og størrelser, håndtere usædvanligt store substrater, måle mikroskopiske detaljer med ultratynde coatings – eller blot den mængde analyser, du skal nå på en dag – så kan Hitachis coating-XRF-analysatorer løse opgaven. De hjælper dig med at reducere spild, minimere omarbejde og sikre, at de komponenter, der forlader din produktion, er af højeste kvalitet. Og i takt med at coatings bliver mere komplekse og komponenter endnu mindre, er vores instrumenter designet til også at håndtere morgendagens udfordringer – og dermed fremtidssikre din investering.
XRF Belægningsanalyse
X-Strata920 er en højpræcisions benchtop XRF-analysator med et stort udvalg af muligheder, der kan tilpasses mange forskellige prøvetyper.
Den er ideel til måling af coatings på en bred vifte af substrater og særligt velegnet til elektronik, stikforbindelser, dekorative emner og smykkeanalyse, hvor produktkvalitet skal dokumenteres.
FT110A er en benchtop XRF-analysator udviklet til at imødekomme udfordringerne ved coatinganalyse i produktionen.
Den kraftfulde røntgenfluorescensteknologi kombineret med automatiseret positionsfunktionalitet hjælper med at øge produktiviteten i galvaniseringsværksteder og sikrer samtidig, at komponenterne lever op til de højeste standarder.
FT200-serien er designet til at forenkle og accelerere test af komponenter og samlinger, hvilket gør det nemmere at måle flere emner på kortere tid.
Med funktioner som Find My Part™ intelligent genkendelse, automatiseret prøvefokusering og et vidvinkelkamera reducerer FT200-serien opsætningstid og brugerfejl, hvilket øger kapacitet og produktivitet.
FT160 benchtop XRF-analysatoren er designet til at måle de mikroskopiske detaljer, der findes på nutidens printplader, halvledere og mikro-stik.
Evnen til hurtigt og præcist at måle disse fine strukturer hjælper med at øge produktiviteten og undgå kostbar omarbejdning eller kassation af komponenter.