FT200 Serien
Benchtop XRF-analysator | Automatiseret XRF til hurtig coatinganalyse
Intelligent coatinganalyse til hurtigere og forbundne målinger
FT200-serien af benchtop XRF-analysatorer er udviklet til markant at reducere den tid, det tager at gennemføre en måling.
Da den største tidsfaktor typisk ligger i prøveopsætning og valg af måleprogram, har ingeniørerne hos Hitachi skabt en serie banebrydende analysatorer, der i praksis “sætter sig selv op”. Det gør det muligt at analysere langt flere emner i løbet af ét skift.
Automatisering og innovativ software er kernen i FT230- og FT210-analysatorerne. Smart Recognition-moduler som Find My Part™ betyder, at operatøren blot skal indlæse prøven, bekræfte emnet – og instrumentet klarer resten. Det finder de rette målepunkter på emnet, selv på store substrater, vælger det korrekte analyseprogram og sender resultaterne direkte til dit kvalitetssystem. Tiden reduceres, risikoen for menneskelige fejl minimeres, og du får gennemført flere analyser på kortere tid – hvilket gør 100 % inspektion langt mere realistisk i et travlt produktionsmiljø.
Produktfordele
Hvert element i FT230 og FT210 er designet til markant at reducere analysetiden.
Automatiseret fokusering
Reducerer tiden til prøveindlæsning.
Find My Part™
Smart genkendelse opsætter hele målerutinen automatisk.
Stor prøvevisning
Prøven vises over en stor del af skærmen for optimal synlighed.
Selvdiagnose
Sikrer instrumentets stabilitet og driftssikkerhed.
Problemfri integration
Eksporterer nemt data og integreres med anden software.
Brugervenlig
Nyt interface gør den nem at anvende for ikke-specialister.
Kraftfuld analyse
Måler op til fire lag plus substrat samtidigt.
Robust design
Bygget til lang levetid i krævende produktion og laboratorier.
Standardoverholdelse
Overholder ASTM B568 og DIN ISO 3497.
IPC-specifikationer
Opfylder krav til ENIG (IPC-4552B), ENEPIG (IPC-4556), immersion Sn (IPC-4554) og immersion Ag (IPC-4553A).
2 Versioner
| FT210 benchtop XRF-analysator | FT230 benchtop XRF-analysator | |
|---|---|---|
| Elementområde | Ti (22) – U (92) | Al (13) – U (92) |
| Detektor | Proportionaltæller | Silicon drift-detektor (SDD) |
| Kammerdesign | Med slids eller lukket | Med slids eller lukket |
| XY-bord (design) | Motoriseret eller fast | Motoriseret eller fast |
| XY-bord (vandring) | 250 × 200 mm | 250 × 200 mm |
| Motoriseret Z-akse (vandring) | 205 mm | 205 mm |
| Største prøvestørrelse | 500 × 400 × 150 mm | 500 × 400 × 150 mm |
| Antal kollimatorer | 4 | 4 |
| Fokuslaser | Inkluderet som standard | Inkluderet som standard |
| Automatisk fokusering | Tilvalg | Tilvalg |
| Vidvinkelkamera | Tilvalg | Tilvalg |
| Afstandsuafhængig måling | Tilvalg | Tilvalg |
| Find My Part™ smart genkendelse | Tilvalg | Tilvalg |
| Coatinganalyse | ✓ | ✓ |
| RoHS-screening | n/a | ✓ |
| Software | FT Connect | FT Connect |