Coating Analyse
Belægningsanalyse
Analyseinstrumenter til måling af coatingtykkelse og -sammensætning
At få coatingtykkelsen helt rigtig er afgørende for at opfylde både økonomiske og kvalitetsmæssige mål. Hvis dine coatings er for tykke, bliver omkostningerne for høje, og med de volatile metalmarkeder er det alt for let at miste hårdt tilkæmpede profitmargener. Er coatingen derimod for tynd, lever komponenterne ikke op til de forventede krav til ydeevne eller udseende, hvilket kan føre til kostbar omarbejdning eller kundeklager.
Hitachis udvalg af benchtop XRF-analysatorer og elektromagnetiske tykkelsesmålere (baseret på magnetisk induktion, hvirvelstrømme og mikroresistans) til coating-applikationer leverer høj ydeevne, nøjagtighed og pålidelighed i en serie af robuste og driftssikre instrumenter, der hjælper med at holde produktionen kørende og produktkvaliteten høj.
Uanset om du måler komplekse coatings på små elektriske stik, følger IPC-retningslinjer eller verificerer coatingintegritet på større komponenter, finder du et Hitachi-instrument, der passer problemfrit ind i din produktion.
Coating- og overflade-analysatorer
Vores håndholdte coatingtykkelsesmålere leverer pålidelige, enkle og præcise målinger.
Vælg mellem et udvalg af digitale tykkelsesmålere, der spænder fra brugervenlige entry-level modeller til avancerede topmodeller med udvidet funktionalitet.
Når én nanometer kan gøre forskellen
Vores coatings-instrumenter giver følgende fordele:
Avanceret ydeevne
Kraftig røntgenkilde og optik
Multilags coatinganalyse med høj præcision og hastighed.
Standardoverholdelse
Bygget til branchens krav
Overholder IPC, ISO3497, ASTM B568 og DIN50987 retningslinjer.
Nem betjening
Intuitiv software & automatisering
Forenkler opsætning og accelererer analysearbejdet.
Fleksible muligheder
Tilpasset dine behov
Vælg optik, detektortype og automatiseringsniveau for effektivitet.
Pålidelige resultater
Selvkontrollerende diagnostik
Sikrer konsekvent og troværdig performance hver gang.
Alsidige instrumenter
Håndholdte & benchtop målere
Mål selv svært tilgængelige områder med elektromagnetiske løsninger.
Hitachis udvalg af benchtop XRF-analysatorer til måling af coatingtykkelse og -sammensætning er udviklet til at imødekomme de udfordringer, som dagens galvaniseringsværksteder og producenter af elektroniske komponenter står overfor.
Hvert instrument indeholder avanceret teknologi, der leverer præcise og nøjagtige resultater, samtidig med at de er robuste nok til at klare konstant brug i både produktion og laboratoriemiljøer.